Système de mesure d'épaisseur par rayons X XCH-4000
- Il permet une surveillance en temps réel de l'épaisseur du film, contribuant ainsi à prévenir la production continue de produits défectueux à la source et à renforcer le contrôle qualité global.
- Le système intègre deux technologies clés : l’étalonnage intelligent par IA et le balayage en temps réel, permettant une détection précise des écarts d’épaisseur.
- En cas d'anomalies détectées, le système enregistre automatiquement les données et déclenche des alarmes afin d'avertir rapidement les opérateurs et de permettre des ajustements opportuns, tout en prévenant les pertes.
- Intégré à une armoire de commande de matrice, le système peut se connecter à une matrice automatique pour effectuer des corrections d'épaisseur en temps réel.
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Vue d'ensemble Système de mesure d'épaisseur par rayons X XCH-4000
Le système de mesure d'épaisseur par rayons X XCH-4000 est spécialement conçu pour l'industrie cinématographique et utilise une technologie de mesure sans contact pour optimiser les équipements de production clés tels que les lignes de coulée et de soufflage de film. Il garantit une uniformité d'épaisseur stable et élevée tout au long de la production. De manière générale, il améliore la rentabilité des lignes de production et renforce la compétitivité des produits.
Paramètres techniques du système de mesure d'épaisseur par rayons X XCH-4000
| Sujet | Paramètre |
| Vitesse de numérisation | 0–20 m/min |
| Précision du positionnement de la numérisation | 0.1 pm |
| précision de synchronisation des capteurs supérieur et inférieur | 0.1 pm |
| Unité de mesure | g/m², mg/m², μm, mm |
| Température ambiante | 0 – 60 ℃ |
| Humidité ambiante | ≤95% |
| Puissance globale de la machine | 2000W |
| Espace vide | 18mm |
| largeur de mesure | 0-10m |
| Précision de mesure répétée | 0.01–0.05 μm |
| Remarque : La précision exacte ne peut être calculée qu'en fonction de la largeur réelle du matériau et de la vitesse de défilement. | |
